ONCHIP(芯片上) ESD防護(hù)設(shè)計高級培訓(xùn)班 |
培養(yǎng)對象 |
本科及本科以上電子類相關(guān)專業(yè)或在業(yè)內(nèi)具備相關(guān)工作經(jīng)驗者,具備電子電路基礎(chǔ),有志于學(xué)習(xí)版圖設(shè)計課程者 |
入學(xué)要求 |
學(xué)員學(xué)習(xí)本課程應(yīng)具備下列基礎(chǔ)知識:
◆電路系統(tǒng)的基本概念。 |
班級規(guī)模及環(huán)境--熱線:4008699035 手機(jī):15921673576/13918613812( 微信同號) |
堅持小班授課,為保證培訓(xùn)效果,增加互動環(huán)節(jié),每期人數(shù)限3到5人。 |
上課時間和地點(diǎn) |
上課地點(diǎn):【上海】:同濟(jì)大學(xué)(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號線白銀路站) 【深圳分部】:電影大廈(地鐵一號線大劇院站)/深圳大學(xué)成教院 【北京分部】:北京中山/福鑫大樓 【南京分部】:金港大廈(和燕路) 【武漢分部】:佳源大廈(高新二路) 【成都分部】:領(lǐng)館區(qū)1號(中和大道) 【沈陽分部】:沈陽理工大學(xué)/六宅臻品 【鄭州分部】:鄭州大學(xué)/錦華大廈 【石家莊分部】:河北科技大學(xué)/瑞景大廈 【廣州分部】:廣糧大廈 【西安分部】:協(xié)同大廈
近開課時間(周末班/連續(xù)班/晚班): ESD開課時間:2025年3月24日........................(歡迎您垂詢,視教育質(zhì)量為生命!) |
實驗設(shè)備 |
☆資深工程師授課
☆注重質(zhì)量
☆邊講邊練
☆合格學(xué)員免費(fèi)推薦工作
專注高端培訓(xùn)17年,曙海提供的課程得到本行業(yè)的廣泛認(rèn)可,學(xué)員的能力
得到大家的認(rèn)同,受到用人單位的廣泛贊譽(yù)。
★實驗設(shè)備請點(diǎn)擊這兒查看★ |
新優(yōu)惠 |
◆在讀學(xué)生憑學(xué)生證,可優(yōu)惠500元。 |
質(zhì)量保障 |
1、培訓(xùn)過程中,如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好,可免費(fèi)在以后培訓(xùn)班中重聽;
2、課程完成后,授課老師留給學(xué)員手機(jī)和Email,保障培訓(xùn)效果,免費(fèi)提供半年的技術(shù)支持。
3、培訓(xùn)合格學(xué)員可享受免費(fèi)推薦就業(yè)機(jī)會。 |
ONCHIP(芯片上)
ESD防護(hù)設(shè)計高級培訓(xùn)班 |
培訓(xùn)對象:
從事模擬/數(shù)字/混合/RF IC,MEMS,存儲器和平板顯示相關(guān)的設(shè)計、制造和表征的工程師及管理者。半導(dǎo)體器件,集成電路設(shè)計和一般電子系統(tǒng)領(lǐng)域的教師和學(xué)生。
課程背景:
靜電放電(ESD)現(xiàn)象在半導(dǎo)體行業(yè)中是普遍存在的。它隨時可能發(fā)生在半導(dǎo)體器件和集成電路的制作、測試、封裝直到用戶使用的任何過程中。近期美國公布了涉及10多個行業(yè)因靜電放電造成的損失調(diào)查結(jié)果,平均每年的直接經(jīng)濟(jì)損失高達(dá)200多億美元,僅電子工業(yè)部門每年因靜電危害損壞電子元器件的損失就高達(dá)100多億美元。每年因靜電擊穿而造成失效的芯片占總失效芯片的35%。ESD的保護(hù)變得越來越重要。
隨著深亞微米及納米級IC工藝的發(fā)展和射頻、高速集成電路產(chǎn)品的開發(fā),靜電放電現(xiàn)象的破壞力日益增強(qiáng)。傳統(tǒng)的二極管靜電保護(hù)方法,已經(jīng)不能滿足業(yè)界對靜電防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)的要求。如何保護(hù)集成電路不被靜電擊穿,已成為各半導(dǎo)體代工企業(yè)越來越重視的問題。靜電放電防護(hù)設(shè)計也成為集成電路設(shè)計企業(yè)要重點(diǎn)解決的一個關(guān)鍵問題,
課 程 大 綱
第 一 階 段
芯片上ESD防護(hù)設(shè)計基礎(chǔ)
一.ESD防護(hù)的基本模型
1. HBM模型
2. MM模型
3. CDM模型
4.IEC簡化模型5.其他模型
二.ESD測試及標(biāo)準(zhǔn)
1. ESD測試標(biāo)準(zhǔn)簡介和分類
2. HBM模式測試方法與測試儀器
3. MM模式測試方法與測試儀器
4. CDM模式測試方法與測試儀器
5.TLP的測試方法與測試儀器
6.電子槍放電的測試方法與測試儀器
三.常用的ESD防護(hù)的器件
1.二極管及二極管串設(shè)計及建模
2.三極管及場氧器件設(shè)計及建模
3.MOS管及其相關(guān)設(shè)計設(shè)計及建模
4.晶閘管及其相關(guān)設(shè)計設(shè)計及建模
四、系統(tǒng)級和電路板級ESD防護(hù)電路設(shè)計
1.ESD需求指標(biāo)的設(shè)定
2.IC輸入/輸出端的ESD防護(hù)電路
3.混合信號IC的ESD防護(hù)電路。
4.全芯片級ESD防護(hù)的設(shè)計
5.IC電路布線布局優(yōu)化6.電路板級ESD防護(hù)的設(shè)計。
第 二 階 段
納米集成電路上ESD防護(hù)設(shè)計
一、晶閘管類ESD防護(hù)器件設(shè)計
1. 晶閘管ESD防護(hù)器件工作機(jī)理以及晶閘管類器件設(shè)計可能出現(xiàn)的問題。
2. 對不同種類晶閘管器件結(jié)構(gòu)的回顧。
3. 晶閘管的標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計方法論。
4. 晶閘管器件直流和混合模式的TCAD仿真
二、鉗位單元設(shè)計
1. CMOS工藝中關(guān)鍵ESD元件設(shè)計。
2. 以可控方式泄放ESD電荷的鉗位單元設(shè)計。
3. 影響ESD防護(hù)性能的設(shè)計因素考慮。
三、 CDM模式ESD的設(shè)計及測試研究
1.VF-TLP與TLP測試原理
2.常用開啟速度測試方法
3.利用TLP測試器件的開始速度
4.不同器件的開啟速度的評估
四 CAD仿真工具在ESD防護(hù)設(shè)計中的應(yīng)用
1. SPICE電路級仿真與器件建模的研究進(jìn)展
2. 工藝器件級TCAD仿真的應(yīng)用
五、射頻集成電路的ESD設(shè)計
1. 射頻ESD簡介。
2. 射頻ESD測試專題。
3. 射頻ESD防護(hù)建模。
4. 射頻ESD 防護(hù)設(shè)計。
5. 射頻功能完整性的ESD優(yōu)化。
6. 利用工藝仿真器和器件仿真器來進(jìn)行射頻ESD輔助設(shè)計。
六、實際案例分析
1、常用的基于晶閘管(SCR)的靜電放電(ESD)防護(hù)電路
2、柵輔助觸發(fā)的高性能晶閘管(SCR)的靜電放電(ESD)防護(hù)電路
3、空間對稱結(jié)構(gòu)的高性能晶閘管(SCR)的靜電放電(ESD)防護(hù)電路
|